Εργαστήριο Τεχνικών χαρακτηρισμού υλικών

Κωδικός Μαθήματος: MSC404    Εξάμηνο: 8     Κατεύθυνση: ΦΥΣΙΚΗ ΥΛΙΚΩΝ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑΣ      Κατηγορία: Υποχρεωτικό     Διδακτικές Μονάδες: 3     Μονάδες ECTS: 5

Μάθημα - Εργαστήριο:   Δημήτριος Αναστασόπουλος     Ευάγγελος Βιτωράτος     Αλέξανδρος Βραδής     Αθανάσιος Βόμβας     Σταυρούλα Γεωργά     Χριστόφορος Κροντηράς     Αικατερίνη Πομόνη     Σωτήριος Σακκόπουλος     Δημήτριος Σκαρλάτος     Χρήστος Τοπρακτσίογλου

Περιγραφή Μαθήματος

A. Εισαγωγή B. Φυσικές και Χημικές Μέθοδοι Ι (Τεχνικές Ηλεκτρονικής δέσμης) - Hλεκτρονική Μικροσκοπία Διέλευσης (TEM) - Hλεκτρονική Μικροσκοπία Σάρωσης (SEM) - Φασματοσκοπία Auger Γ. Φυσικές και Χημικές Μέθοδοι ΙI (Τεχνικές Iοντικής δέσμης) - Φασματοσκοπία δευτερογενούς εκπομπής ιόντων SIMS - Οπισθοσκέδαση Ruttherford (RBS) Δ. Φυσικές και Χημικές Μέθοδοι ΙII (Τεχνικές ακτίνων X ) - Περιθλασιμετρία ακτίνων Χ (XRD) - Ανακλαστικότητα ακτίνων X (XRR) E. Φυσικές και Χημικές Μέθοδοι ΙV (Τεχνικές Scanning probe microscopy) -Μικροσκοπία σάρωσης ακκίδας (STM) -Μικροσκοπία ατομικής δύναμης (AFM) ΣΤ. Οπτικές Μέθοδοι - Ελλειψομετρία - Φασματοσκοπία RAMAN - Φασματοσκοπία FTIR Ζ. Ηλεκτρικές Μέθοδοι - Μετρήσεις Hall - Μετρήσεις Spreading resistance - DC ανάλυση - Μεταβατική (Transient) ανάλυση - Διηλεκτρική Φασματοσκοπία - Aγωγιμότητα - φωτοαγωγιμότητα